| 1 | 1- Yarıiletken malzemelerin temel özelliklerini ve yapılarını açıklayabilme. |
| 2 | 2- Doping süreçlerinin etkilerini ve yarıiletken türlerini tanımlayabilme. |
| 3 | 3- Farklı yapı bozukluğu türlerini (noktasal, çizgisel, yüzeysel) tanıyabilme ve bunların nedenlerini açıklayabilme. |
| 4 | 4- Yapı bozukluklarının yarıiletkenlerin performansına etkilerini analiz edebilme. |
| 5 | 5- X-ışını difraksiyonu (XRD), tarama elektron mikroskobu (SEM) ve atomik kuvvet mikroskobu (AFM) gibi analiz yöntemlerini kullanarak veri elde edebilme. |
| 6 | 6- Laboratuvar deneylerinde yapı bozukluklarının gözlemlenmesi ve analiz edilmesi. |
| 7 | 7- Yapı bozukluklarının elektriksel özellikler (elektron hareketliliği, iletim kaybı vb.) üzerindeki etkilerini değerlendirebilme. |
| 8 | 8- Yarıiletken cihazlarının performansını etkileyen faktörleri açıklayabilme. |